半导体领域液体颗粒度检测解决方案面向超纯水、湿电子化学品、CMP 抛光液及半导体工艺用液的微量颗粒检测一、行业背景与检测挑战半导体制造对工艺介质中的颗粒污染近乎“零容忍”。晶圆制程中，亚微米甚至纳米级颗粒一旦沉积在晶圆表面或 feature 内部，即可能导致图形缺陷、良率损失。随着制程节点演进，芯片关键尺寸不断缩小，对超纯水、湿电子化学品（酸、碱、蚀刻液、清洗液、剥离液）、CMP 抛光液等工...

0.05μm可测粒径获权威验证罗根科兴KZ-50H液体颗粒计数器通过上海市计量测试技术研究院检测校准与RION KS-18F颗粒计数器比对表现优异近日,我公司自主研发的 KZ-50H 光散射法液体颗粒计数器(最小可测粒径 0.05μm),顺利通过上海市计量测试技术研究院(SIMT,华东国家计量测试中心)的权威检测与校准——并在与计量院参考标准器RION KS-18F 的同台比对中表现出色。现...

罗根科兴液体颗粒计数器凭过硬的实验数据拿下订单▍ 高端检测设备，某上市公司不见真本事不下单。▍ 罗根科兴用某型号的液体颗粒计数器，配合一套"原液+稀释法交叉验证"方案，让数据自己说话。▍ 最终，对方对结果非常满意，确认采购。采购前的那个"验证关"国内某电子级硫酸铜龙头企业，是该领域的重要供应商，产品下游对接半导体、面板显示、PCB等高端制造领域。这类客户对溶液中颗粒物的尺寸分布极为敏感——亚...